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上皿光學(xué)天平已廢止

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標(biāo)準(zhǔn)號：JB/T 9520-1999

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基本信息

標(biāo)準(zhǔn)號：JB/T 9520-1999

發(fā)布時間：1999-08-06

實施時間：2000-01-01

首發(fā)日期：

出版單位：機(jī)械工業(yè)出版社查看詳情>

起草人：

作廢日期：2010-01-20

出版機(jī)構(gòu)：機(jī)械工業(yè)出版社

標(biāo)準(zhǔn)分類：實驗室基礎(chǔ)設(shè)備

ICS分類：化學(xué)實驗室、實驗室設(shè)備

提出單位：長沙科學(xué)儀器研究所

起草單位：長沙科學(xué)儀器研究所

歸口單位：長沙科學(xué)儀器研究所

發(fā)布部門：國家機(jī)械工業(yè)局

標(biāo)準(zhǔn)簡介

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了上皿光學(xué)天平的基本參數(shù)、技術(shù)要求、試驗方法及檢驗規(guī)則、標(biāo)志、包裝。本標(biāo)準(zhǔn)適月于上皿光學(xué)天平(以下簡稱天平)。

替代情況

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引用標(biāo)準(zhǔn)

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本標(biāo)準(zhǔn)相關(guān)公告

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采標(biāo)情況

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