半導體器件 分立器件 第4-1部分：微波二極管和晶體管 微波場效應晶體管空白詳細規范 現行
Semiconductor devices—Discrete devices—Part 4-1:microwave diodes and transistors—Microwave field effect transistors—Blank detail specification
標準號：GB/T 21039.1-2007
基本信息
標準號：GB/T 21039.1-2007
發布時間：2007-06-29
實施時間：2007-11-01
首發日期：2007-06-29
出版單位：中國標準出版社查看詳情>
起草人：羅發明、劉春勛
出版機構：中國標準出版社
標準分類： 半導體二極管
ICS分類：三極管
提出單位：信息產業部
起草單位：中國電子技術標準化研究所
歸口單位：全國半導體分立器件標準化分技術委員會
發布部門：中華人民共和國國家質量監督檢驗檢疫總局 中國國家標準化管理委員會
主管部門：信息產業部（電子）
標準簡介
本部分等同采用IEC 60747-4-1：2000《半導體器件 分立器件 第4-1部分：微波二極管和晶體管 微波場效應晶體管空白詳細規范》。本空白詳細規范是半導體器件的一系列空白詳細規范之一，具體內容包括：機械說明；簡要說明；質量評定類別；極限值；電特性；標志；訂貨資料；試驗條件和簡要要求等。
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