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電子元器件環(huán)境試驗(yàn)使用導(dǎo)則 已作廢

Guide to the application of environmental tests to electronic components

標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：GB 11279-1989

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基本信息

標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：GB 11279-1989
發(fā)布時(shí)間：1989-03-03
實(shí)施時(shí)間：1990-01-01
首發(fā)日期：1989-03-31
起草人：
作廢日期：2005-10-14
標(biāo)準(zhǔn)分類(lèi)： 基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法
ICS分類(lèi)：環(huán)境試驗(yàn)
起草單位：電子標(biāo)準(zhǔn)化所
歸口單位：信息產(chǎn)業(yè)部（電子）
發(fā)布部門(mén)：信息產(chǎn)業(yè)部（電子）
主管部門(mén)：信息產(chǎn)業(yè)部（電子）

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