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識(shí)別卡 測(cè)試方法 第7部分：鄰近式卡 現(xiàn)行

Identification cards—Test methods—Part 7:Vicinity cards

標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：GB/T 17554.7-2010

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基本信息

標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：GB/T 17554.7-2010
發(fā)布時(shí)間：2010-12-01
實(shí)施時(shí)間：2011-04-01
首發(fā)日期：2010-12-01
出版單位：中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)出版社查看詳情>
起草人：馮敬、高林、袁理、金倩、黃小鵬、耿力、趙子淵
出版機(jī)構(gòu)：中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)出版社
標(biāo)準(zhǔn)分類： 數(shù)據(jù)媒體
ICS分類：識(shí)別卡和有關(guān)裝置
提出單位：全國(guó)信息技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(SAC/TC 28)
起草單位：中國(guó)電子技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化研究所、東信和平智能卡股份有限公司
歸口單位：全國(guó)信息技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(SAC/TC 28)
發(fā)布部門：中華人民共和國(guó)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局 中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)
主管部門：全國(guó)信息技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(SAC/TC 28)

標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介

GB/T17554規(guī)定了符合GB/T14916識(shí)別卡特性的測(cè)試方法。每一測(cè)試方法交叉引用一個(gè)或多個(gè)基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn),這些基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)可以是GB/T14916或一個(gè)或多個(gè)定義了用于識(shí)別卡應(yīng)用的信息存儲(chǔ)技術(shù)的補(bǔ)充標(biāo)準(zhǔn)。GB/T17554的本部分規(guī)定了無(wú)觸點(diǎn)集成電路卡技術(shù)(鄰近式卡)的測(cè)試方法。第1部分規(guī)定了為一種或多種卡技術(shù)所共用的測(cè)試方法;其他部分則規(guī)定了各個(gè)專項(xiàng)技術(shù)的測(cè)試方法。除非另有規(guī)定,本部分中的測(cè)試僅適用于GB/T22351.1和GB/T22351.2中定義的鄰近式卡。

標(biāo)準(zhǔn)摘要

GB/T17554在《識(shí)別卡 測(cè)試方法》總標(biāo)題下,目前分為如下7個(gè)部分:
———第1部分:一般特性測(cè)試;
———第2部分:磁條卡;
———第3部分:帶觸點(diǎn)的集成電路卡及其相關(guān)接口設(shè)備;
———第4部分:無(wú)觸點(diǎn)集成電路卡;
———第5部分:光記憶卡;
———第6部分:接近式卡;
———第7部分:鄰近式卡。
本部分為GB/T17554的第7部分。本部分使用重新起草法,修改采用國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)ISO/IEC10373-7:2008《識(shí)別卡 測(cè)試方法 第7部分:鄰近式卡》(英文版)。
本部分與ISO/IEC10373-7:2008相比,增加和修改了下列內(nèi)容,并在相應(yīng)條款的外側(cè)頁(yè)邊空白處用單垂線標(biāo)示:
a) 為了使標(biāo)準(zhǔn)更加清晰易懂,增加了縮略語(yǔ)PCB;
b) 為了便于引用,8.1.2做了編輯性修改;
c) 為了避免實(shí)際應(yīng)用中可能出現(xiàn)在規(guī)定的工作區(qū)域內(nèi)VICC不能正常工作的情況,增加第9章工作場(chǎng)強(qiáng)測(cè)試。
本部分的附錄A、附錄C和附錄D是規(guī)范性附錄。
本部分的附錄B、附錄E和附錄F是資料性附錄。
本部分由全國(guó)信息技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(SAC/TC28)提出并歸口。
本部分起草單位:中國(guó)電子技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化研究所、東信和平智能卡股份有限公司。
本部分主要起草人:馮敬、高林、袁理、金倩、黃小鵬、耿力、趙子淵。

標(biāo)準(zhǔn)目錄

前言 Ⅰ
1 范圍 1
2 規(guī)范性引用文件 1
3 術(shù)語(yǔ)和定義、縮略語(yǔ)和符號(hào) 1
4 適用于測(cè)試方法的默認(rèn)條款 2
5 靜電測(cè)試 2
6 測(cè)試裝置和測(cè)試電路 3
7 VICC的功能測(cè)試 6
8 VCD的功能測(cè)試 7
9 VICC的工作場(chǎng)強(qiáng)測(cè)試 8
附錄A (規(guī)范性附錄) 測(cè)試VCD天線 9
附錄B(資料性附錄) 測(cè)試VCD天線調(diào)諧 11
附錄C (規(guī)范性附錄) 傳感線圈 13
附錄D (規(guī)范性附錄) 用于VCD功率測(cè)試的參考VICC 15
附錄E (資料性附錄) 用于負(fù)載調(diào)制測(cè)試的參考VICC 17
附錄F(資料性附錄) 頻譜計(jì)算程序 18

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