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砷化鎵單晶AB微缺陷密度定量檢驗方法 現行

Quantitative determination of AB microscopic defect density in gallium arsenide single crystal

標準號：SJ 20843-2002

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基本信息

標準號：SJ 20843-2002
發布時間：2002-10-30
實施時間：2003-03-01
首發日期：
出版單位：工業電子出版社查看詳情>
起草人：
出版機構：工業電子出版社
標準分類： 電子技術專用材料
起草單位：中國電子科技集團公司第四十六所

標準簡介

本標準規定了砷化鎵單晶中AB微缺陷密度的定量檢驗方法。本標準適用于晶向為

替代情況

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引用標準

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