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太陽(yáng)能電池用硅片表面粗糙度及切割線痕測(cè)試方法

Test methods for surface roughness and saw mark of silicon wafers for solar cells
標(biāo)準(zhǔn)號(hào):GB/T 30860-2014
基本信息
標(biāo)準(zhǔn)號(hào):GB/T 30860-2014
發(fā)布時(shí)間:2014-07-24
實(shí)施時(shí)間:2015-04-01
首發(fā)日期:
出版單位:中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)出版社查看詳情>
起草人:徐自亮、任皓、陳佳洵、李銳、孫燕、熊金杰、楊素心、蔣建國(guó)、王麗華、薛抗美、黃黎
出版機(jī)構(gòu):中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)出版社
標(biāo)準(zhǔn)分類: 金屬物理性能試驗(yàn)方法
ICS分類:金屬材料試驗(yàn)
提出單位:全國(guó)半導(dǎo)體設(shè)備和材料標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(SAC/TC203)及材料分技術(shù)委員會(huì)(SAC/TC203/SC2)
起草單位:中國(guó)有色金屬工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)計(jì)量質(zhì)量研究所、瑟米萊伯貿(mào)易(上海)有限公司、江蘇協(xié)鑫硅材料科技發(fā)展有限公司、有研半導(dǎo)體材料股份有限公司、特變電工新疆新能源股份有限公司、洛陽(yáng)鴻泰半導(dǎo)體有限公司、連云港國(guó)家硅材料深加工產(chǎn)品質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)中心
歸口單位:全國(guó)半導(dǎo)體設(shè)備和材料標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(SAC/TC203)及材料分技術(shù)委員會(huì)(SAC/TC203/SC2)
發(fā)布部門:中華人民共和國(guó)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局 中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)
主管部門:國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)
標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介
本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了太陽(yáng)能電池用硅片(以下簡(jiǎn)稱硅片)的表面粗糙度及切割線痕的接觸式或非接觸式輪廓測(cè)試方法。本標(biāo)準(zhǔn)適用于通過(guò)線切工藝加工生產(chǎn)的單晶和多晶硅片。如果需要適用于其他產(chǎn)品,則需相關(guān)各方協(xié)商同意。
標(biāo)準(zhǔn)摘要
本標(biāo)準(zhǔn)按照 GB/T1.1—2009給出的規(guī)則起草。 本標(biāo)準(zhǔn)由全國(guó)半導(dǎo)體設(shè)備和材料標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(SAC/TC203)及材料分技術(shù)委員會(huì)(SAC/TC203/SC2)共同提出并歸口。 本標(biāo)準(zhǔn)起草單位:中國(guó)有色金屬工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)計(jì)量質(zhì)量研究所、瑟米萊伯貿(mào)易(上海)有限公司、江蘇協(xié)鑫硅材料科技發(fā)展有限公司、有研半導(dǎo)體材料股份有限公司、特變電工新疆新能源股份有限公司、洛陽(yáng)鴻泰半導(dǎo)體有限公司、連云港國(guó)家硅材料深加工產(chǎn)品質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)中心。 本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人:徐自亮、任皓、陳佳洵、李銳、孫燕、熊金杰、楊素心、蔣建國(guó)、王麗華、薛抗美、黃黎。 |
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