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紅外焦平面陣列特性參數(shù)測(cè)試技術(shù)規(guī)范

The technical norms for measurement and test of characteristic parameters of infrared focal plane arrays
標(biāo)準(zhǔn)號(hào):GB/T 17444-1998
基本信息
標(biāo)準(zhǔn)號(hào):GB/T 17444-1998
發(fā)布時(shí)間:1998-07-03
實(shí)施時(shí)間:1999-05-01
首發(fā)日期:1998-07-30
出版單位:中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)出版社查看詳情>
起草人:
作廢日期:2014-04-15
出版機(jī)構(gòu):中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)出版社
標(biāo)準(zhǔn)分類(lèi): 紅外器件
ICS分類(lèi):光電子學(xué)、激光設(shè)備
起草單位:中國(guó)科學(xué)院上海技術(shù)物理研究所
歸口單位:信息產(chǎn)業(yè)部(電子)
發(fā)布部門(mén):國(guó)家質(zhì)量技術(shù)監(jiān)督局
主管部門(mén):信息產(chǎn)業(yè)部(電子)
標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介
本標(biāo)準(zhǔn)所指的焦平面,是敏感紅外輻照的光敏陣列并帶有讀出電路的器件。本標(biāo)準(zhǔn)對(duì)焦平面特性參數(shù)及相關(guān)量進(jìn)行了定義。本標(biāo)準(zhǔn)給出了焦平面主要特性參數(shù)的測(cè)試方法及測(cè)試條件。本標(biāo)準(zhǔn)適用于線列和面陣焦平面。
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