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介電晶體介電性能的試驗方法
介電晶體介電性能的試驗方法 現行
Test method for dielectric properties of dielectric crystal
標準號：GB/T 16822-1997
基本信息
標準號：GB/T 16822-1997
發布時間：1997-05-28
實施時間：1998-02-01
首發日期：1997-05-28
出版單位：中國標準出版社查看詳情>
起草人：
出版機構：中國標準出版社
標準分類： 電子技術專用材料
ICS分類：電子元件綜合
起草單位：中國科學院物理研究所
歸口單位：信息產業部（電子）
發布部門：國家技術監督局
主管部門：信息產業部（電子）
標準簡介
本標準規定了介電晶體的低頻（10MHz以下)介電系數及介電損耗的試驗方法。本標準適用于介電晶體的介電性能的測定。
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