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微束分析 硅酸鹽玻璃的定量分析 波譜法及能譜法 現行

Microbeam analysis—Quantitative analysis of silicate glass by wavelength dispersive X-ray spectrometry and energy dispersive X-ray spectrometry

標準號：GB/T 15244-2013

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基本信息

標準號：GB/T 15244-2013
發布時間：2013-07-19
實施時間：2014-03-01
首發日期：
出版單位：中國標準出版社查看詳情>
起草人：李香庭、曾毅、吳偉
出版機構：中國標準出版社
標準分類： 基礎標準與通用方法
ICS分類：化學分析
提出單位：全國微束分析標準化技術委員會(SAC/TC38)
起草單位：中國科學院上海硅酸鹽研究所
歸口單位：全國微束分析標準化技術委員會(SAC/TC 38)
發布部門：中華人民共和國國家質量監督檢驗檢疫總局 中國國家標準化管理委員會
主管部門：全國微束分析標準化技術委員會(SAC/TC 38)

標準簡介

本標準規定了電子探針儀(EPMA)和掃描電子顯微鏡(SEM)的X 射線波譜儀(WDS)和能譜儀(EDS)對硅酸鹽玻璃的定量分析方法。本標準適用于硅酸鹽玻璃試樣(包括堿金屬的硅酸鹽玻璃)的波譜法(WDX)和能譜法(EDX)的定量分析。

標準摘要

本標準按照GB/T1.1—2009給出的規則起草。
本標準代替GB/T15244—2002《玻璃的電子探針定量分析方法》
本標準與GB/T15244—2002相比主要內容變化如下:
———增加了標準樣品的選擇原則(見5.1和5.2);
———刪除5.3中(K-44)和(K-45);
———增加了試樣制備后的要求(見6.1);
———修改了試樣和標準樣品蒸鍍導電膜的具體要求(見6.3);
———修改了儀器定量分析前開機時間的要求(見7.1.1);
———增加了“分析區域較大時,也可以用電子探針的同軸光學顯微鏡確定分析部位”(見7.14);
———加速電壓選擇中增加了過壓比的要求,修改了不同原子序數的加速電壓選擇方法(見7.2.1);
———增加了硅漂移能譜儀(SDD)的束流選擇方法(見7.2.2);
———增加了用電子束掃描的方法分析不穩定玻璃(見7.2.3);
———修改了X射線線系的原子序數選擇范圍(見7.2.4);
———增加了SDD能譜儀的測量條件(見7.3.3);
———增加了X射線強度在測量時間內變化量小于1%的要求(見7.3.5);
———增加了輕元素的差值法測量(見8.2);
———增加了無標樣EDS定量分析方法(見8.4)。
本標準由全國微束分析標準化技術委員會(SAC/TC38)提出并歸口。
本標準起草單位:中國科學院上海硅酸鹽研究所。
本標準主要起草人:李香庭、曾毅、吳偉。
本標準所代替標準的歷次版本發布情況為:
———GB/T15244—2002。

替代情況

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引用標準

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本標準相關公告

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采標情況

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