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半導(dǎo)體分立器件和集成電路 第5-3部分：光電子器件 測(cè)試方法 現(xiàn)行

Discrete semiconductor devices and integrated circuits—Part 5-3:Optoelectronic devices—Measuring methods

標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：GB/T 15651.3-2003

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基本信息

標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：GB/T 15651.3-2003
發(fā)布時(shí)間：2003-01-01
實(shí)施時(shí)間：2004-08-01
首發(fā)日期：2003-11-24
出版單位：中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)出版社查看詳情>
起草人：陳蘭、那仁、王守華
出版機(jī)構(gòu)：中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)出版社
標(biāo)準(zhǔn)分類： 光電子器件組合
ICS分類：光電子學(xué)、激光設(shè)備
提出單位：中華人民共和國(guó)信息產(chǎn)業(yè)部
起草單位：華禹光谷股份有限公司半導(dǎo)體廠
歸口單位：全國(guó)半導(dǎo)體器件標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)
發(fā)布部門：中華人民共和國(guó)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局
主管部門：信息產(chǎn)業(yè)部（電子）

標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介

本部分適用于光電子器件的測(cè)試方法，用于光纖系統(tǒng)或子系統(tǒng)的除外。

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