
Information technology - Requirements and Guidelines for Test Methods Specification and Test Method implementation for Measuring Conformance to POSIX Standards
標(biāo)準(zhǔn)號(hào):GB/T 17548-2008
本標(biāo)準(zhǔn)適用于POSIX 標(biāo)準(zhǔn)符合性測(cè)試方法的開發(fā)和使用,也適用于其他應(yīng)用編程接口規(guī)范的開發(fā)和使用。 本標(biāo)準(zhǔn)旨在供測(cè)試方法規(guī)范和測(cè)試方法實(shí)施的開發(fā)者和使用者使用。本標(biāo)準(zhǔn)代替GB/T17548—1998,與1998版標(biāo)準(zhǔn)相比,本標(biāo)準(zhǔn)發(fā)生了如下的主要變化:———標(biāo)準(zhǔn)名稱改為“POSIX 標(biāo)準(zhǔn)符合性的測(cè)試方法規(guī)范和測(cè)試方法實(shí)現(xiàn)的要求和指南”;———引用標(biāo)準(zhǔn)中由軟件工程術(shù)語(yǔ)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T11457—2006代替了原文中的IEEEStd729,其他引用標(biāo)準(zhǔn)均改為對(duì)應(yīng)的國(guó)家標(biāo)準(zhǔn);———增加了斷言的類型,并對(duì)每種斷言類型從結(jié)構(gòu)、語(yǔ)法等方面進(jìn)行了介紹;———增加了測(cè)試方法實(shí)現(xiàn)和測(cè)試方法規(guī)范對(duì)測(cè)試結(jié)果代碼的要求描述;———增加了輪廓測(cè)試方法和宏方面的內(nèi)容;———增加了用C 語(yǔ)言和Ada語(yǔ)言編寫斷言的示例。
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