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一維納米材料的基本結(jié)構(gòu) 高分辨透射電子顯微鏡檢測方法 現(xiàn)行

Fundamental structures of one dimensional nanomaterials - High resolution electron microscopy characterization

標準號:GB/Z 21738-2008

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基本信息

標準號:GB/Z 21738-2008
發(fā)布時間:2008-05-08
實施時間:2008-11-01
首發(fā)日期:2008-05-08
出版單位:中國標準出版社查看詳情>
起草人:李建奇
出版機構(gòu):中國標準出版社
標準分類: 光學(xué)儀器綜合
ICS分類:光學(xué)和光學(xué)測量綜合
提出單位:全國納米技術(shù)標準化技術(shù)委員會納米材料分技術(shù)委員會
起草單位:中國科學(xué)院物理研究所電子顯微鏡實驗室
歸口單位:全國納米技術(shù)標準化技術(shù)委員會納米材料分技術(shù)委員會
發(fā)布部門:中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局 中國國家標準化管理委員會
主管部門:中國科學(xué)院

標準簡介

本指導(dǎo)性技術(shù)文件規(guī)定了采用高分辨透射電子顯微鏡檢測納米材料中一維或準一維納米材料的原理、術(shù)語及定義、儀器和設(shè)備、樣品制備、測量程序、結(jié)果表示和試驗報告等內(nèi)容。本指導(dǎo)性技術(shù)文件適用于測量一維或準一維納米材料的基本結(jié)構(gòu)(形貌、排列情況、大小線度的分布、晶化情況、生長取向關(guān)系),元素組分、截面及界面原子排布等。

標準摘要

本指導(dǎo)性技術(shù)文件由全國納米技術(shù)標準化技術(shù)委員會納米材料分技術(shù)委員會提出。
本指導(dǎo)性技術(shù)文件由全國納米技術(shù)標準化技術(shù)委員會納米材料分技術(shù)委員會歸口。
本指導(dǎo)性技術(shù)文件起草單位:中國科學(xué)院物理研究所電子顯微鏡實驗室。
本指導(dǎo)性技術(shù)文件主要起草人:李建奇。

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采標情況

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