
Semiconductor devices --Integrated circuits --Part 2:Digital integrated circuits --Section five --Blank detail specification for complementary MOS digital integrated circuits,series 4 000B and 4 000UB
標(biāo)準(zhǔn)號:GB/T 9424-1998
基本信息
標(biāo)準(zhǔn)號:GB/T 9424-1998
發(fā)布時間:1988-06-02
實施時間:1999-06-01
首發(fā)日期:1988-06-23
出版單位:中國標(biāo)準(zhǔn)出版社查看詳情>
起草人:
出版機(jī)構(gòu):中國標(biāo)準(zhǔn)出版社
標(biāo)準(zhǔn)分類: 半導(dǎo)體集成電路
ICS分類:集成電路、微電子學(xué)
起草單位:電子部標(biāo)準(zhǔn)化所
歸口單位:全國半導(dǎo)體器件標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會
發(fā)布部門:國家質(zhì)量技術(shù)監(jiān)督局
主管部門:信息產(chǎn)業(yè)部(電子)
標(biāo)準(zhǔn)簡介
IEC電子器件質(zhì)量評定體系遵循IEC章程并在IEC授權(quán)下工作。該體系的目的是確定質(zhì)量評定程序,以這種方式使一個參加國按有關(guān)規(guī)范要求放行的電子器件無需進(jìn)一步試驗而為其他所有參加國同樣接受。
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