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半導(dǎo)體器件 機(jī)械和氣候試驗(yàn) 第1部分:總則

Semiconductor devices―Mechanical and climatic test methods―Part 1: General
標(biāo)準(zhǔn)號(hào):GB/T 4937.1-2006
基本信息
標(biāo)準(zhǔn)號(hào):GB/T 4937.1-2006
發(fā)布時(shí)間:2006-08-23
實(shí)施時(shí)間:2007-02-01
首發(fā)日期:1985-02-06
出版單位:中國標(biāo)準(zhǔn)出版社查看詳情>
起草人:陳海蓉、崔波
出版機(jī)構(gòu):中國標(biāo)準(zhǔn)出版社
標(biāo)準(zhǔn)分類: 半導(dǎo)體分立器件綜合
ICS分類:半導(dǎo)體器件
提出單位:中華人民共和國信息產(chǎn)業(yè)部
起草單位:中國電子科技集團(tuán)公司第十三研究所
歸口單位:全國半導(dǎo)體器件標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)
發(fā)布部門:中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局 中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)
主管部門:信息產(chǎn)業(yè)部(電子)
標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介
本部分代替GB/T 4937-1995《半導(dǎo)體器件 機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法》第Ⅰ篇總則。本部分適用于半導(dǎo)體器件(分立器件和集成電路)并為GB/T 4937系列的其他部分建立通用準(zhǔn)則。
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