國內標準動態
中華人民共和國國家標準批準發布公告2018年第4號
- 發表時間：2018/03/15
- 來源：國標委
關于批準發布《半導體集成電路 電壓調整器測試方法》等20項國家標準的公告
國家質量監督檢驗檢疫總局、國家標準化管理委員會批準《半導體集成電路 電壓調整器測試方法》等20項國家標準，現予以公布（見附件）。
國家質檢總局 國家標準委
2018年3月15日
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序號 |
標準編號 | 標準名稱 | 代替標準號 | 實施日期 |
| 1 | 半導體集成電路 電壓調整器測試方法 | 2018-08-01 | ||
| 2 | 半導體集成電路 模擬開關測試方法 | 2018-08-01 | ||
| 3 | 微波電路 噪聲源測試方法 | 2018-08-01 | ||
| 4 | 微波電路 頻率源測試方法 | 2018-08-01 | ||
| 5 | 非易失性存儲器耐久和數據保持試驗方法 | 2018-08-01 | ||
| 6 | 數字集成電路 輸入/輸出電氣接口模型規范 | 2018-08-01 | ||
| 7 | 集成電路倒裝焊試驗方法 | 2018-08-01 | ||
| 8 | 半導體集成電路 電平轉換器測試方法 | 2018-08-01 | ||
| 9 | 半導體集成電路 低電壓差分信號電路測試方法 | 2018-08-01 | ||
| 10 | 串行NOR型快閃存儲器接口規范 | 2018-08-01 | ||
| 11 | 串行NAND型快閃存儲器接口規范 | 2018-08-01 | ||
| 12 | 半導體芯片產品 第1部分：采購和使用要求 | 2018-08-01 | ||
| 13 | 半導體芯片產品 第2部分：數據交換格式 | 2018-08-01 | ||
| 14 | 半導體芯片產品 第3部分：操作、包裝和貯存指南 | 2018-08-01 | ||
| 15 | 半導體芯片產品 第4部分：芯片使用者和供應商要求 | 2018-08-01 | ||
| 16 | 半導體芯片產品 第5部分：電學仿真要求 | 2018-08-01 | ||
| 17 | 半導體芯片產品 第6部分：熱仿真要求 | 2018-08-01 | ||
| 18 | 半導體芯片產品 第7部分：數據交換的XML格式 | 2018-08-01 | ||
| 19 | 半導體芯片產品 第8部分：數據交換的EXPRESS格式 | 2018-08-01 | ||
| 20 | 微波電路 壓控振蕩器測試方法 | 2018-08-01 |
出處：
